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商品類型

簡體書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$600~$799 (1)
出版日期

2022~2023 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

(美)亞歷山大‧博耶、(美)艾‧西加 (1)
出版社/品牌

國防工業出版社 (1)

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先進集成電路電磁兼容測試與建模(簡體書)
滿額折
作者:(美)亞歷山大‧博耶; (美)艾‧西加  出版社:國防工業出版社  出版日:2022/10/12 裝訂:精裝
本書的內容涵蓋了學習如何在發射、免疫和信號完整性問題上對電路及其周圍環境(PCB)進行建模的概念,由仿真軟件IC-EMC來說明理論概念以及實踐案例研究。全書共11章,第1、2章介紹了先進集成電路的技術和性能趨勢,並著重討論了它們對不同EM問題的影響。第3章提供了理解本書所需的幾個理論概念。第4章概述了影響電子設備的不同EM問題。第5、6章主要針對集成電路安裝後所產生的EM問題,進行了預測分析,並提出了解決方案。第7章介紹了EMC測試的基本概念。第8、9九章介紹了最常用的測試方法,專門用於表徵IC發射和敏感度。最後3章講述了IC級EM問題建模及建模方。
定價:768 元, 優惠價:87 668
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