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商品定價

$800以上 (5)
出版日期

2018~2019 (2)
2016年以前 (3)
裝訂方式

平裝 (3)
精裝 (2)
作者

Alfred Stein (EDT)/ Wenzhong Shi (EDT)/ Wietske Bijker (EDT) (2)
Shi Wenzhong (EDT)/ Bo Wu (EDT)/ Alfred Stein (EDT) (2)
Rolf Alfred Stein (1)
出版社/品牌

CRC Pr I Llc (2)
CRC Press UK (1)
Productivity Press (1)
Stanford Univ Pr (1)

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5筆商品,1/1頁
Tibetan Civilization
滿額折
作者:Rolf Alfred Stein  出版社:Stanford Univ Pr  出版日:1972/06/01 裝訂:平裝
定價:1120 元, 優惠價:1 1120
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)
Quality Aspects in Spatial Data Mining
作者:Alfred Stein (EDT); Wenzhong Shi (EDT); Wietske Bijker (EDT)  出版社:CRC Press UK  出版日:2008/11/13 裝訂:精裝
Describes the State-of-the-Art in Spatial Data Mining, Focuses on Data QualitySubstantial progress has been made toward developing effective techniques for spatial information processing in recent yea
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data
作者:Shi Wenzhong (EDT); Bo Wu (EDT); Alfred Stein (EDT)  出版社:Productivity Press  出版日:2015/11/18 裝訂:精裝
The rapid developments in GIS such as data integration, representation, spatial data products, and new spatial data mining methods, are forcing users to deal with data of unknown or ambiguous quality;
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
Quality Aspects in Spatial Data Mining
90折
作者:Alfred Stein (EDT); Wenzhong Shi (EDT); Wietske Bijker (EDT)  出版社:CRC Pr I Llc  出版日:2019/09/01 裝訂:平裝
定價:3735 元, 優惠價:9 3362
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)
Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data
90折
作者:Shi Wenzhong (EDT); Bo Wu (EDT); Alfred Stein (EDT)  出版社:CRC Pr I Llc  出版日:2019/09/01 裝訂:平裝
定價:3735 元, 優惠價:9 3362
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)

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