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商品類型
原文書 （5）
商品狀況
可訂購商品 （5）
庫存狀況
無庫存 （5）
商品定價
$800以上 （5）
出版日期
2016年以前 （5）
裝訂方式
平裝 （2）
精裝 （1）
作者
Chris P. Nielsen, Mun S. Ho （1）
Edited by Kenneth P. Rodbell 、William F. Filter 、Harold J. Frost 、Paul S. Ho （1）
Edited by R. J. Nemanich 、P. S. Ho 、S. S. Lau （1）
Edited by S. K. Groothuis 、P. S. Ho 、K. Ishida 、T. Wu （1）
Vincent S. Tseng (EDT)/ Tu Bao Ho (EDT)/ Zhi-Hua Zhou (EDT)/ Arbee L. P. Chen (EDT)/ Hung-yu Kao (EDT) （1）
出版社/品牌
CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS （2）
Cambridge University Press （1）
Mit Pr （1）
Springer Verlag （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共5筆商品，1/1頁
Clearer Skies Over China ─ Reconciling Air Quality, Climate, and Economic Goals
1.

Clearer Skies Over China ─ Reconciling Air Quality, Climate, and Economic Goals

作者：Chris P. Nielsen; Mun S. Ho  出版社：Mit Pr  出版日：2013/10/18 裝訂：精裝
China's carbon dioxide emissions now outstrip those of other countries and itsdomestic air quality is severely degraded, especially in urban areas. Its sheer size and itsgrowing, fossil-fuel-powered e
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Thin Films ― Interfaces and Phenomena：VOLUME54
90折
2.

Thin Films ― Interfaces and Phenomena：VOLUME54

作者：Edited by R. J. Nemanich ; P. S. Ho ; S. S. Lau  出版社：Cambridge University Press  出版日：1986/04/15 裝訂：平裝
定價：1845 元， 優惠價：9 1661
無庫存，下單後進貨(到貨天數約30-45天)
Electronic Packaging Materials Science IX：VOLUME445
滿額折
3.

Electronic Packaging Materials Science IX：VOLUME445

作者：Edited by S. K. Groothuis ; P. S. Ho ; K. Ishida ; T. Wu  出版社：CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日：1997/10/20 裝訂：平裝
Contains papers from a December 1996 symposium, focusing on technology for flip chip packaging, materials metrology and characterization, and packaging reliability and testing. Papers are organized in
定價：1665 元， 優惠價：9 1499
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Materials Reliability in Microelectronics III：VOLUME309
滿額折
4.

Materials Reliability in Microelectronics III：VOLUME309

作者：Edited by Kenneth P. Rodbell ; William F. Filter ; Harold J. Frost ; Paul S. Ho  出版社：CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日：1993/08/31 裝訂：平裝
The proceedings of the title symposium, held in San Francisco in April 1993, comprise invited and contributed papers in the areas of dielectric reliability; microstructure effects on reliability; stre
定價：1665 元， 優惠價：9 1499
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Advances in Knowledge Discovery and Data Mining ― 18th Pacific-asia Conference, Pakdd 2014, Tainan, Taiwan, May 13-16, 2014. Proceedings
5.

Advances in Knowledge Discovery and Data Mining ― 18th Pacific-asia Conference, Pakdd 2014, Tainan, Taiwan, May 13-16, 2014. Proceedings

作者：Vincent S. Tseng (EDT); Tu Bao Ho (EDT); Zhi-Hua Zhou (EDT); Arbee L. P. Chen (EDT); Hung-yu Kao (EDT)  出版社：Springer Verlag  出版日：2014/05/21 裝訂：平裝
The two-volume set LNAI 8443 + LNAI 8444 constitutes the refereed proceedings of the 18th Pacific-Asia Conference on Knowledge Discovery and Data Mining, PAKDD 2014, held in Tainan, Taiwan, in May 201
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