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商品類型

簡體書 (1)
商品狀況

無法訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$200~$399 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
作者

耿南平 (1)
出版社/品牌

北京航空航天大學出版社 (1)

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1筆商品,1/1頁
公差配合與技術測量(簡體書)
作者:耿南平  出版社:北京航空航天大學出版社  出版日:2010/01/01 裝訂:平裝
《公差配合與技術測量》是高職院校機械類和近機械類各專業技術基礎課教材。內容突出以能力為本,以理論聯系實際、指導學生動手操作為原則。全書共12章,包括緒論、尺寸公差與配合、技術測量基礎、形狀和位置公差及檢測、表面粗糙度及檢測、光滑極限量規的設計、滾動軸承的公差與配合、鍵和花鍵聯結的公差及檢測、圓錐公差及檢測、普通螺紋結合的公差及檢測、漸開線圓柱齒輪傳動精度及檢測,以及尺寸鏈等。《公差配合與技術測量》
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